溫度老化試驗箱廠家直銷

來源：林頻儀器 時間：2017-04-10 16:32

林頻牌標(biāo)準(zhǔn)型溫度老化試驗箱可分為兩種:一種是普通儀表采用韓國三元ST190的，另一種采用優(yōu)易控儀表的可編程的，兩種之間的差別在于它們的編程儀表是相對的。

溫度范圍：低溫0℃ -20℃ -40℃ -60℃ -70℃，高溫150℃，也可制作非標(biāo)準(zhǔn)溫度;

溫度均勻度：±2℃

溫度波動度：±0.5℃

升溫速率：1.0～3.0℃/min

降溫速率：0.7～1.0℃/min

時間設(shè)定范圍：0～9999 小時

電源要求：AC380V

是客戶的要求不在標(biāo)準(zhǔn)之內(nèi)也可制作。一臺好的溫度老化試驗箱不僅有標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)參數(shù)還應(yīng)具備一些特點：

1、控制系統(tǒng)：應(yīng)至少具備顯示直觀、操縱簡便的特點;

2、結(jié)構(gòu)特征：試驗箱主要由控制系統(tǒng)、箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫濕度循環(huán)系統(tǒng)組成，應(yīng)結(jié)構(gòu)合理;

3、設(shè)備材質(zhì)：通常情況下試驗箱外箱材質(zhì)采用A3鋼板并噴塑處理，內(nèi)箱采用進(jìn)口SUS304不銹鋼，保溫材質(zhì)采用玻璃纖維棉+聚氨酯硬質(zhì)發(fā)泡;

4、溫度老化試驗箱應(yīng)具備較寬的溫濕度度控制范圍;

5、達(dá)到國家標(biāo)注GB/T10592溫度老化試驗箱技術(shù)前提，適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法》對產(chǎn)品進(jìn)行低溫及高溫試驗。適用于電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品)的高低溫度試驗。

在環(huán)試行業(yè)中一臺溫度老化試驗箱不能單一的說設(shè)備某個方面可以達(dá)到要求，或者可以滿足某個標(biāo)準(zhǔn)，它是需要從各個方面來考核的。